视觉检测

引言：芯片引脚检测，真正的瓶颈在哪里？ 提到芯片引脚视觉检测方案，很多人的第一反应是"分辨率够不够"。4K相机、千万像素传感器——硬件参数看起来一路高歌猛进。但在实际的半导体产线上，工程师们面对的核心难题，往往不是"看不清"，而是"看不准"。 芯片引脚的金属表面天然高反光，加上缺陷尺度往往在微米甚至亚微米级别，光线一变、角度一偏，检测结果就可能大幅波动。换句话说，芯片引脚视觉检测方案的难点不在分辨

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